1）試驗探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對于微帶線和隨后的共面試驗探針設(shè)計，試驗探針的接觸是用小的金屬球來實現(xiàn)的，這個金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。  

    2）為了能同時接觸到DUT的信號壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將試驗探針傾斜。這個過程被稱為“試驗探針的平面化”。  

    3）試驗探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行試驗探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及校準(zhǔn)方法的開發(fā)。  

    4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行試驗探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測量參考平面移向其極尖處。來自試驗探針和到同軸連接器的過渡所產(chǎn)生的試驗探針的損耗及反射是通過由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。  

    5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來很容易地預(yù)測模型參數(shù)。